Zakład Projektowania Materiałów
Gmach Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, pok. 009
Konsultacje: wtorek 12:15-13:15, czwartek 15:00-16:00
Wykształcenie
- Tytuł magistra inżyniera: Politechnika Warszawska, Wydział Mechaniki i Energetyki Cieplnej, 1971
- Stopień doktora nauk technicznych: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, 1981
- Stopień doktora habilitowanego nauk technicznych: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, 2000
- Tytuł profesora nauk technicznych, 2011
Staże naukowe:
-
Brunel University of West London, Wielka Brytania, 1993, 1994, 1996
Działalność naukowa
Charakteryzowanie materiałów metodami: mikroanalizy rentgenowskiej, elektronowej mikroskopii skaningowej, spektroskopii elektronów Auger, procesy dyfuzji w ciałach stałych, metalurgia proszków, nanomateriały.
Publikacje
- T. Wejrzanowski, M. Lewandowska, K. Sikorski, K.J. Kurzydłowski: Effect of grain size on melting point of confined thin aluminum films, J. Appl. Phys. 116 (2014) 164302.
- M. Tacikowski, R. Sitek, K. Sikorski, T. Wierzchoń: Structure of the Al-Ni intermetallic composite layers produced on the Inconel 600 alloy by the glow discharge enhanced-PACVD method, Intermetallics 17 (2009) 1098.
- M. Lewandowska-Szumieł, K. Sikorski, A. Szummer, J. Komender, M. Kowalski, A.U. Daniels, Experimental Model for Observation of Micromotion in Cell Culture Applied Biomaterials 72B (2005) 379.
-
K. Sikorski, A. Szymańska, M. Sekuła, D. Kowalczyk, J. Kazior, K.J. Kurzydłowski, Microstructure and mechanical Properties of the Stainless Steels Obtained by Sintering Mixtures of AISI 316L and Silicon Powders, Materials Science Forum 513. (2006) 35.
Osiągnięcia
Monografie
- K. Sikorski: Współczesna mikroanaliza rentgenowska, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2016, 122 strony
- K. Sikorski: Quantitative x-ray microanalysis beyond the resolution of the method, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2009, 136 stron
- K. Sikorski: Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw i małych cząstek, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2000, 108 stron
Nagrody
- 2016: Nagroda JM Rektora Politechniki Warszawskiej za osiągnięcia dydaktyczne
- 2015: Srebrny Medal Politechniki Warszawskiej
- 2005: Medal Komisji Edukacji Narodowej
- 1999, 2000 i 2009: Nagrody JM Rektora Politechniki Warszawskiej za osiągnięcia naukowe
- 1987: Nagroda JM Rektora Politechniki Warszawskiej za osiągnięcia dydaktyczne
- 1985 i 1994: Nagroda Ministra Edukacji Narodowej
- 1983: Nagroda indywidualna JM Rektora Politechniki Warszawskiej za pracę doktorską: Metoda ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej cienkich warstw.
Pozostałe osiągnięcia
- Członek Sekcji Metod Badań Materiałów Komitetu Nauki o Materiałach PAN
- Członek Sekcji Metalurgii Proszków Komitetu Nauki o Materiałach PAN
- Członek The European Microbeam Analysis Society