Zakład Projektowania Materiałów
Gmach Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, pok. 009

Konsultacje: wtorek 12:15-13:15, czwartek 15:00-16:00

Wykształcenie

  • Tytuł magistra inżyniera: Politechnika Warszawska, Wydział Mechaniki i Energetyki Cieplnej, 1971
  • Stopień doktora nauk technicznych: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, 1981
  • Stopień doktora habilitowanego nauk technicznych: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, 2000
  • Tytuł profesora nauk technicznych, 2011

Staże naukowe:

  • Brunel University of West London, Wielka Brytania, 1993, 1994, 1996
     

Działalność naukowa

Charakteryzowanie materiałów metodami: mikroanalizy rentgenowskiej, elektronowej mikroskopii skaningowej, spektroskopii elektronów Auger, procesy dyfuzji w ciałach stałych, metalurgia proszków, nanomateriały.
 

Publikacje

  1. T. Wejrzanowski, M. Lewandowska, K. Sikorski, K.J. Kurzydłowski: Effect of grain size on melting point of confined thin aluminum films, J. Appl. Phys. 116 (2014) 164302.
  2. M. Tacikowski, R. Sitek, K. Sikorski, T. Wierzchoń: Structure of the Al-Ni intermetallic composite layers produced on the Inconel 600 alloy by the glow discharge enhanced-PACVD method, Intermetallics 17 (2009) 1098.
  3. M. Lewandowska-Szumieł, K. Sikorski, A. Szummer, J. Komender, M. Kowalski, A.U. Daniels, Experimental Model for Observation of Micromotion in Cell Culture Applied Biomaterials 72B (2005) 379.
  4. K. Sikorski, A. Szymańska, M. Sekuła, D. Kowalczyk, J. Kazior, K.J. Kurzydłowski, Microstructure and mechanical Properties of the Stainless Steels Obtained by Sintering Mixtures of AISI 316L and Silicon Powders, Materials Science Forum 513. (2006) 35.
     

Osiągnięcia

Monografie

  • K. Sikorski: Współczesna mikroanaliza rentgenowska, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2016, 122 strony
  • K. Sikorski: Quantitative x-ray microanalysis beyond the resolution of the method, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2009, 136 stron
  • K. Sikorski: Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw i małych cząstek, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2000, 108 stron

Nagrody

  • 2016: Nagroda JM Rektora Politechniki Warszawskiej za osiągnięcia dydaktyczne
  • 2015: Srebrny Medal Politechniki Warszawskiej
  • 2005: Medal Komisji Edukacji Narodowej
  • 1999, 2000 i 2009: Nagrody JM Rektora Politechniki Warszawskiej za osiągnięcia naukowe
  • 1987: Nagroda JM Rektora Politechniki Warszawskiej za osiągnięcia dydaktyczne
  • 1985 i 1994: Nagroda Ministra Edukacji Narodowej
  • 1983: Nagroda indywidualna JM Rektora Politechniki Warszawskiej za pracę doktorską: Metoda ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej cienkich warstw.

Pozostałe osiągnięcia

  • Członek Sekcji Metod Badań Materiałów Komitetu Nauki o Materiałach PAN
  • Członek Sekcji Metalurgii Proszków Komitetu Nauki o Materiałach PAN
  • Członek The European Microbeam Analysis Society